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Particle Tracking of Microelectromechanical System Performance and Reliability.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-31093003
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34877125
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Accurate localization microscopy by intrinsic aberration calibration.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34168121
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MEMS Young's Modulus and Step Height Measurements With Round Robin Results.
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en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27134790
5.
Subnanometer localization accuracy in widefield optical microscopy.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30839614
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Microsyst Nanoeng
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27840694
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