Detalles de la búsqueda
1.
Electron microscope calibration for the Lorentz mode.
Ultramicroscopy
; 99(2-3): 201-9, 2004 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15093947
2.
Backscattered electron imaging and scanning transmission electron microscopy imaging of multi-layers.
Ultramicroscopy
; 94(2): 89-98, 2003.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-12505758
3.
Comparison of spatial resolutions obtained with different signal components in scanning electron microscopy.
Ultramicroscopy
; 65(1-2): 23-30, 1996 Sep.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-8961547
4.
Spatial resolution and energy filtering of backscattered electron images in scanning electron microscopy.
Ultramicroscopy
; 88(2): 139-50, 2001 Jul.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-11419875
5.
[The electron microscope in Italy: present state and prospective development]. / La microscopia elettronica in Italia: stato attuale e prospettive di sviluppo.
Ann Ist Super Sanita
; 18(1): 153-61, 1982.
Artículo
en Italiano
| MEDLINE | ID: mdl-7171169
6.
Low-energy STEM of multilayers and dopant profiles.
Microsc Microanal
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15683576
7.
About the role of boundary conditions on compositional imaging with a scanning electron microscope.
J Microsc
; 218(Pt 2): 180-4, 2005 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15857379
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