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1.
Nanometer-scale resolution of strain and interdiffusion in self-assembled InAs/GaAs quantum dots
Phys Rev Lett
; 85(8): 1694-7, 2000 Aug 21.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-10970591
2.
Kinetic roughness of amorphous multilayers studied by diffuse x-ray scattering.
Phys Rev Lett
; 73(16): 2228-2231, 1994 Oct 17.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-10057005
3.
Determination of the static scaling exponent of self-affine interfaces by nonspecular x-ray scattering.
Phys Rev B Condens Matter
; 51(9): 5617-5627, 1995 Mar 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-9979469
4.
Interfacial roughness and related growth mechanisms in sputtered W/Si multilayers.
Phys Rev B Condens Matter
; 54(8): 5860-5872, 1996 Aug 15.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-9986552
5.
Parametric amplification of few-cycle carrier-envelope phase-stable pulses at 2.1 microm.
Opt Lett
; 31(8): 1103-5, 2006 Apr 15.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-16625917
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