Detalles de la búsqueda
1.
Combined frequency modulated atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy detection for multi-tip scanning probe microscopy applications.
Rev Sci Instrum
; 86(12): 123703, 2015 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26724038
2.
Voltage preamplifier for extensional quartz sensors used in scanning force microscopy.
Rev Sci Instrum
; 82(6): 063701, 2011 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21721696
3.
Simultaneously measured signals in scanning probe microscopy with a needle sensor: frequency shift and tunneling current.
Rev Sci Instrum
; 81(3): 033703, 2010 Mar.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20370181
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