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1.
Design and Analysis of Soft Error Rate in FET/CNTFET Based Radiation Hardened SRAM Cell.
Sensors (Basel)
; 22(1)2021 Dec 22.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35009576
2.
Effect of fetal distress on viability and yield of umbilical cord blood stem cells-a prospective comparative study.
Hematol Transfus Cell Ther
; 2024 May 06.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38763843
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