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1.
Laser-vibrometric ultrasonic characterization of resonant modes and quality factors of Ge membranes.
Sci Technol Adv Mater
; 15(2): 025004, 2014 Apr.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27877665
2.
Overcoming low Ge ionization and erosion rate variation for quantitative ultralow energy secondary ion mass spectrometry depth profiles of Si(1-x)Ge(x)/Ge quantum well structures.
Anal Chem
; 84(5): 2292-8, 2012 Mar 06.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-22296224
3.
Electrical isolation of dislocations in Ge layers on Si(001) substrates through CMOS-compatible suspended structures.
Sci Technol Adv Mater
; 13(5): 055002, 2012 Oct.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27877523
4.
Uprooting defects to enable high-performance III-V optoelectronic devices on silicon.
Nat Commun
; 10(1): 4322, 2019 09 20.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-31541107
5.
N-Type Doped Silicon Thin Film on a Porous Cu Current Collector as the Negative Electrode for Li-Ion Batteries.
ChemistryOpen
; 7(1): 92-96, 2018 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29318101
6.
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction.
J Appl Crystallogr
; 48(Pt 3): 655-665, 2015 Jun 01.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-26089757
7.
Characterization of SiGe thin films using a laboratory X-ray instrument.
J Appl Crystallogr
; 46(Pt 4): 898-902, 2013 Aug 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-24046495
8.
Heteroepitaxial Growth of Ferromagnetic MnSb(0001) Films on Ge/Si(111) Virtual Substrates.
Cryst Growth Des
; 13(11): 4923-4929, 2013 Nov 06.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-24409091
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