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1.
Thermal Boundary Conductance of Direct Bonded Aluminum Nitride to Silicon Interfaces.
ACS Appl Electron Mater
; 6(4): 2413-2419, 2024 Apr 23.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38680727
2.
Detection of In-Plane Movement in Electrically Actuated Microelectromechanical Systems Using a Scanning Electron Microscope.
Micromachines (Basel)
; 14(3)2023 Mar 22.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36985105
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