Detalles de la búsqueda
1.
Characterization of Sputtered CdTe Thin Films with Electron Backscatter Diffraction and Correlation with Device Performance.
Microsc Microanal
; 21(4): 927-35, 2015 Aug.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26077102
2.
Orientation precision of electron backscatter diffraction measurements near grain boundaries.
Microsc Microanal
; 20(3): 852-63, 2014 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-24576405
3.
Generational assessment of EBSD detectors for cross-correlation-based analysis: From scintillators to direct detection.
Ultramicroscopy
; 257: 113913, 2024 Mar.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38141535
4.
A review of strain analysis using electron backscatter diffraction.
Microsc Microanal
; 17(3): 316-29, 2011 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21418731
5.
Reconstructed and analyzed X-ray computed tomography data of investment-cast and additive-manufactured aluminum foam for visualizing ligament failure mechanisms and regions of contact during a compression test.
Data Brief
; 16: 601-603, 2018 Feb.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29264375
6.
Orientation effects on indexing of electron backscatter diffraction patterns.
Ultramicroscopy
; 103(1): 41-58, 2005 Apr.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-15777599
7.
Electron imaging with an EBSD detector.
Ultramicroscopy
; 148: 132-145, 2015 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-25461590
8.
Introduction and comparison of new EBSD post-processing methodologies.
Ultramicroscopy
; 159 Pt 1: 81-94, 2015 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26342553
9.
EBSD image quality mapping.
Microsc Microanal
; 12(1): 72-84, 2006 Feb.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-17481343
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