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1.
Nanoscale Three-Dimensional Imaging of Integrated Circuits Using a Scanning Electron Microscope and Transition-Edge Sensor Spectrometer.
Sensors (Basel)
; 24(9)2024 Apr 30.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38732996
2.
Design of a 3000-Pixel Transition-Edge Sensor X-Ray Spectrometer for Microcircuit Tomography.
IEEE Trans Appl Supercond
; 31(5)2021.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35529769
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