Detalles de la búsqueda
1.
Ultrathin ferroic HfO2-ZrO2 superlattice gate stack for advanced transistors.
Nature
; 604(7904): 65-71, 2022 04.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35388197
2.
Accurate Threshold Voltage Reliability Evaluation of Thin Al2O3 Top-Gated Dielectric Black Phosphorous FETs Using Ultrafast Measurement Pulses.
ACS Appl Mater Interfaces
; 11(26): 23673-23680, 2019 Jul 03.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-31252490
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