Detalles de la búsqueda
1.
Automatic integrated circuit die positioning in the scanning electron microscope.
Scanning
; 24(2): 86-91, 2002.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-11998906
2.
Design considerations for refractive solid immersion lens: application to subsurface integrated circuit fault localization using laser induced techniques.
Rev Sci Instrum
; 80(1): 013703, 2009 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19191437
Resultados
1 -
2
de 2
1
Próxima >
>>