Detalles de la búsqueda
1.
Correlative Atom Probe Tomography and Transmission Electron Microscopy Analysis of Grain Boundaries in Thermally Grown Alumina Scale.
Microsc Microanal
; 25(1): 11-20, 2019 02.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-30712525
2.
SiGeSn Ternaries for Efficient Group IV Heterostructure Light Emitters.
Small
; 13(16)2017 04.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-28160408
3.
Growth and Electrical Characterization of Hybrid Core/Shell InAs/CdSe Nanowires.
ACS Appl Mater Interfaces
; 16(8): 11035-11042, 2024 Feb 28.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38377460
4.
Crystallization of amorphous Fe90Zr10 under ball milling.
J Nanosci Nanotechnol
; 10(1): 336-9, 2010 Jan.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20352857
5.
Advanced GeSn/SiGeSn Group IV Heterostructure Lasers.
Adv Sci (Weinh)
; 5(6): 1700955, 2018 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-29938172
6.
Thermal stability of TiAlN/CrN multilayer coatings studied by atom probe tomography.
Ultramicroscopy
; 111(6): 518-23, 2011 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-21146308
Resultados
1 -
6
de 6
1
Próxima >
>>