Detalles de la búsqueda
1.
An Efficient Electron Ptychography Method for Retrieving the Object Spectrum from Only a Few Iterations.
Microsc Microanal
; 30(2): 294-305, 2024 Apr 29.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38507652
2.
Integrated Differential Phase Contrast (IDPC)-STEM Utilizing a Multi-Sector Detector for Imaging Thick Samples.
Microsc Microanal
; : 1-11, 2022 Mar 07.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35249588
3.
Computationally Efficient Handling of Partially Coherent Electron Sources in (S)TEM Image Simulations via Matrix Diagonalization.
Microsc Microanal
; : 1-9, 2022 Sep 15.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36104826
4.
Mrs Movers & Shakers.
MRS Bull
; 45(9): 783-784, 2020.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33437128
5.
Chromatic Aberration Correction for Atomic Resolution TEM Imaging from 20 to 80 kV.
Phys Rev Lett
; 117(7): 076101, 2016 Aug 12.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-27563976
6.
Minimum-dose phase-contrast tomography by successive numerical optical sectioning employing the aberration-corrected STEM and a pixelated detector.
Ultramicroscopy
; 235: 113484, 2022 May.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-35177296
7.
The contributions of Otto Scherzer (1909-1982) to the development of the electron microscope.
Microsc Microanal
; 16(4): 366-74, 2010 Aug.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20569527
8.
Lattice contrast in the core-loss EFTEM signal of graphene.
Ultramicroscopy
; 219: 113119, 2020 Dec.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-32987248
9.
Historical aspects of aberration correction.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 58(3): 77-85, 2009 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19254915
10.
First application of Cc-corrected imaging for high-resolution and energy-filtered TEM.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 58(3): 147-55, 2009 Jun.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19398781
11.
Efficient linear phase contrast in scanning transmission electron microscopy with matched illumination and detector interferometry.
Nat Commun
; 7: 10719, 2016 Feb 29.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-26923483
12.
Future trends in aberration-corrected electron microscopy.
Philos Trans A Math Phys Eng Sci
; 367(1903): 3809-23, 2009 Sep 28.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-19687067
13.
Electrostatic correction of the chromatic and of the spherical aberration of charged-particle lenses (part II).
J Electron Microsc (Tokyo)
; 51(1): 45-51, 2002.
Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-12003241
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