Detalles de la búsqueda
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Optimized FIB silicon samples suitable for lattice parameters measurements by convergent beam electron diffraction.
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Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-17346978
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Ultramicroscopy
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-16870339
3.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-14733153
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Ultramicroscopy
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Artículo
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| MEDLINE | ID: mdl-20092947
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