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1.
Thin films with high surface roughness: thickness and dielectric function analysis using spectroscopic ellipsometry.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-24570853
2.
Nonaqueous atomic layer deposition of aluminum phosphate.
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Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23755858
3.
Temperature-dependent Raman investigation of rolled up InGaAs/GaAs microtubes.
Nanoscale Res Lett
; 7(1): 594, 2012 Oct 26.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-23101911
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