Detalles de la búsqueda
1.
Probe chip nanofabrication enabled reverse tip sample scanning probe microscopy concept and measurements.
Nanotechnology
; 35(26)2024 Apr 09.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38522105
2.
Direct Assessment of Defective Regions in Monolayer MoS2 Field-Effect Transistors through In Situ Scanning Probe Microscopy Measurements.
ACS Nano
; 18(15): 10653-10666, 2024 Apr 16.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38556983
3.
Conductivity Enhancement in Transition Metal Dichalcogenides: A Complex Water Intercalation and Desorption Mechanism.
ACS Appl Mater Interfaces
; 15(21): 26175-26189, 2023 May 31.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-37194926
4.
Engineering Wafer-Scale Epitaxial Two-Dimensional Materials through Sapphire Template Screening for Advanced High-Performance Nanoelectronics.
ACS Nano
; 15(6): 9482-9494, 2021 Jun 22.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-34042437
5.
Mitigating Dark Current for High-Performance Near-Infrared Organic Photodiodes via Charge Blocking and Defect Passivation.
ACS Appl Mater Interfaces
; 13(14): 16766-16774, 2021 Apr 14.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-33820414
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