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Nanoscale Three-Dimensional Imaging of Integrated Circuits Using a Scanning Electron Microscope and Transition-Edge Sensor Spectrometer.
Sensors (Basel)
; 24(9)2024 Apr 30.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-38732996
2.
Physics-assisted generative adversarial network for X-ray tomography.
Opt Express
; 30(13): 23238-23259, 2022 Jun 20.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-36225009
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