Detalles de la búsqueda
1.
Using a <670> zone axis for convergent beam electron diffraction measurements of lattice strain in strained silicon.
J Microsc
; 239(2): 154-8, 2010 Aug 01.
Artículo
en Inglés
| MEDLINE | ID: mdl-20629920
Resultados
1 -
1
de 1
1
Próxima >
>>