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Ultrasonics ; 45(1-4): 100-3, 2006 Dec.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-17055019

RESUMO

We demonstrate the third harmonic generation in a ZnO/Si layered structure to obtain high frequency SAW devices. This configuration eliminates the need of high lithography resolution and allows easy integration of such devices and electronics on the same wafer. A theoretical study was carried out for the determination of the phase velocity and the electromechanical coupling coefficient (K(2)) dispersion curves of the surface acoustic waves. These results are also in agreement with those measured on a SAW filter designed for the third harmonic generation and the operating frequency is up to 2468 MHz.


Assuntos
Acústica/instrumentação , Desenho Assistido por Computador , Modelos Químicos , Transdutores , Óxido de Zinco/química , Simulação por Computador , Desenho de Equipamento , Análise de Falha de Equipamento , Ondas de Rádio , Espalhamento de Radiação
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