Your browser doesn't support javascript.
loading
Mostrar: 20 | 50 | 100
Resultados 1 - 2 de 2
Filtrar
Mais filtros










Base de dados
Intervalo de ano de publicação
1.
Opt Express ; 18(6): 5512-24, 2010 Mar 15.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-20389568

RESUMO

We experimentally demonstrate random bit generation using multi-bit samples of bandwidth-enhanced chaos in semiconductor lasers. Chaotic fluctuation of laser output is generated in a semiconductor laser with optical feedback and the chaotic output is injected into a second semiconductor laser to obtain a chaotic intensity signal with bandwidth enhanced up to 16 GHz. The chaotic signal is converted to an 8-bit digital signal by sampling with a digital oscilloscope at 12.5 Giga samples per second (GS/s). Random bits are generated by bitwise exclusive-OR operation on corresponding bits in samples of the chaotic signal and its time-delayed signal. Statistical tests verify the randomness of bit sequences obtained using 1 to 6 bits per sample, corresponding to fast random bit generation rates from 12.5 to 75 Gigabit per second (Gb/s) ( = 6 bit x 12.5 GS/s).


Assuntos
Lasers Semicondutores , Modelos Estatísticos , Processamento de Sinais Assistido por Computador/instrumentação , Simulação por Computador , Dinâmica não Linear
2.
Opt Express ; 17(11): 9053-61, 2009 May 25.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-19466155

RESUMO

A high speed physical random bit generator is applied for the first time to a gigahertz clocked quantum key distribution system. Random phase-modulation in a differential-phase-shift quantum key distribution (DPS-QKD) system is performed using a 1-Gbps random bit signal which is generated by a physical random bit generator with chaotic semiconductor lasers. Stable operation is demonstrated for over one hour, and sifted keys are successfully generated at a rate of 9.0 kbps with a quantum bit error rate of 3.2% after 25-km fiber transmission.


Assuntos
Redes de Comunicação de Computadores/instrumentação , Segurança Computacional/instrumentação , Lasers Semicondutores , Processamento de Sinais Assistido por Computador/instrumentação , Telecomunicações/instrumentação , Desenho Assistido por Computador , Desenho de Equipamento , Análise de Falha de Equipamento , Reprodutibilidade dos Testes , Sensibilidade e Especificidade
SELEÇÃO DE REFERÊNCIAS
DETALHE DA PESQUISA
...