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Chemosphere ; 54(8): 1121-5, 2004 Feb.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-14664840

RESUMO

Time of flight secondary ion mass spectroscopy has been used to study the metal distribution at the soil/root interface of tree roots extracted from smelter-impacted soils. The results, augmented by scanning electron microscopy, show that the technique is capable of resolving metal distributions at the cellular level. In addition, the distribution of metals between the root plaque and the root interior may be useful in interpreting local metal transport mechanisms.


Assuntos
Metais/química , Metais/metabolismo , Raízes de Plantas/metabolismo , Raízes de Plantas/microbiologia , Populus/metabolismo , Solo/análise , Árvores , Microscopia Eletrônica de Varredura , Espectrometria de Massa de Íon Secundário/métodos
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