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Nano Lett ; 5(3): 549-53, 2005 Mar.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-15755112

RESUMO

A method to produce metal electrodes with a gap of a few nanometers with a highly focused electron beam in a transmission electron microscope (TEM) is described. With this method the electrical and geometrical characterization of the same particle is possible. The I-V characteristics of a gold particle trapped between such electrodes showed the expected single-electron tunneling behavior, with a Coulomb gap corresponding to the geometry of the particle as observed with high-resolution TEM.


Assuntos
Eletroquímica/instrumentação , Ouro/análise , Ouro/química , Teste de Materiais/instrumentação , Microeletrodos , Microscopia Eletrônica de Transmissão/métodos , Condutividade Elétrica , Eletroquímica/métodos , Elétrons , Desenho de Equipamento , Análise de Falha de Equipamento , Teste de Materiais/métodos , Propriedades de Superfície
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