Detecting elusive surface atoms with atomic force microscopy. | Proc Natl Acad Sci U S A;100(22): 12531-2, 2003 Oct 28. | MEDLINE

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Detecting elusive surface atoms with atomic force microscopy.

Hersam, Mark C; Chung, Yip-Wah.

Afiliación

Hersam MC; Department of Materials Science and Engineering, Northwestern University, 2220 Campus Drive, Evanston, IL 60208-3108, USA.

Proc Natl Acad Sci U S A ; 100(22): 12531-2, 2003 Oct 28.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-14569012

Asunto(s)

Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Microscopía de Túnel de Rastreo/métodos; Sensibilidad y Especificidad

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Proc Natl Acad Sci U S A Año: 2003 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Proc Natl Acad Sci U S A Año: 2003 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos