Your browser doesn't support javascript.
loading
Ion mixing at 20 keV: a comparison of the effects of Ga+, Ar+ and CF4+ ion irradiation.
Barna, A; Gurban, S; Kotis, L; Toth, A L; Menyhard, M.
Afiliación
  • Barna A; Research Institute for Technical Physics and Materials Science, Post Box 49, Budapest H-1525, Hungary.
Ultramicroscopy ; 109(1): 129-32, 2008 Dec.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18977599
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Hungria Pais de publicación: Países Bajos
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Hungria Pais de publicación: Países Bajos