DNA deformations near charged surfaces: electron and atomic force microscopy views.

Faas, F G A; Rieger, B; van Vliet, L J; Cherny, D I

Faas, F G A; Rieger, B; van Vliet, L J; Cherny, D I.

Afiliación

Faas FG; Department of Imaging Science and Technology Delft University of Technology, Delft, The Netherlands.

Biophys J ; 97(4): 1148-57, 2009 Aug 19.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19686663

Asunto(s)

ADN/química; ADN/ultraestructura; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Microscopía Electrónica/métodos; Modelos Químicos; Modelos Moleculares; Simulación por Computador; Conformación de Ácido Nucleico; Electricidad Estática

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: ADN / Microscopía Electrónica / Modelos Moleculares / Microscopía de Fuerza Atómica / Modelos Químicos Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Biophys J Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos

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