Pulsed gate sweep strategies for hysteresis reduction in carbon nanotube transistors for low concentration NO(2) gas detection.

Mattmann, M; Roman, C; Helbling, T; Bechstein, D; Durrer, L; Pohle, R; Fleischer, M; Hierold, C

Mattmann, M; Roman, C; Helbling, T; Bechstein, D; Durrer, L; Pohle, R; Fleischer, M; Hierold, C.

Afiliación

Mattmann M; Micro and Nanosystems, Department of Mechanical and Process Engineering, ETH Zurich, CH-8092 Zurich, Switzerland. moritz.mattmann@micro.mavt.ethz.ch

Nanotechnology ; 21(18): 185501, 2010 May 07.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20388980

Asunto(s)

Nanotecnología/métodos; Nanotubos de Carbono/química; Dióxido de Nitrógeno/análisis; Electroquímica; Monitoreo del Ambiente; Gases/análisis; Modelos Teóricos; Transistores Electrónicos

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Nanotecnología / Nanotubos de Carbono / Dióxido de Nitrógeno Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Suiza Pais de publicación: Reino Unido

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