Double aberration correction in a low-energy electron microscope. | Ultramicroscopy;110(11): 1358-61, 2010 Oct. | MEDLINE

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Double aberration correction in a low-energy electron microscope.

Schmidt, Th; Marchetto, H; Lévesque, P L; Groh, U; Maier, F; Preikszas, D; Hartel, P; Spehr, R; Lilienkamp, G; Engel, W; Fink, R; Bauer, E; Rose, H; Umbach, E; Freund, H-J.

Afiliación

Schmidt T; Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Faradayweg 6-8, D-14195 Berlin, Germany. schmidtt@fhi-berlin.mpg.de

Ultramicroscopy ; 110(11): 1358-61, 2010 Oct.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20692099

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania

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