Pressure and electrical resistivity measurements on hot expanded nickel: comparisons with quantum molecular dynamics simulations and average atom approaches. | Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys;82(4 Pt 2): 046402, 2010 Oct. | MEDLINE

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Pressure and electrical resistivity measurements on hot expanded nickel: comparisons with quantum molecular dynamics simulations and average atom approaches.

Clérouin, Jean; Starrett, Charles; Faussurier, Gérald; Blancard, Christophe; Noiret, Pierre; Renaudin, Patrick.

Afiliación

Clérouin J; CEA-DAM-DIF, Bruyères Le Châtel, 91297 Arpajon Cedex, France.

Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys ; 82(4 Pt 2): 046402, 2010 Oct.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21230400

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys Asunto de la revista: BIOFISICA / FISIOLOGIA Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia Pais de publicación: Estados Unidos

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