A method for directly correlating site-specific cross-sectional and plan-view transmission electron microscopy of individual nanostructures. | Microsc Microanal;18(6): 1410-8, 2012 Dec. | MEDLINE

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A method for directly correlating site-specific cross-sectional and plan-view transmission electron microscopy of individual nanostructures.

Schreiber, Daniel K; Adusumilli, Praneet; Hemesath, Eric R; Seidman, David N; Petford-Long, Amanda K; Lauhon, Lincoln J.

Afiliación

Schreiber DK; Department of Materials Science and Engineering, Northwestern University, Evanston, IL 60208-3108, USA. daniel.schreiber@pnnl.gov

Microsc Microanal ; 18(6): 1410-8, 2012 Dec.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23146147

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prevalence_studies Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Reino Unido

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