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Integration of a high-NA light microscope in a scanning electron microscope.
Zonnevylle, A C; Van Tol, R F C; Liv, N; Narvaez, A C; Effting, A P J; Kruit, P; Hoogenboom, J P.
Afiliación
  • Zonnevylle AC; Department of Imaging Science and Technology, Faculty of Applied Sciences, Delft University of Technology, Lorentzweg, the Netherlands.
J Microsc ; 252(1): 58-70, 2013 Oct.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23889193

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía Límite: Humans Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos Pais de publicación: Reino Unido

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía Límite: Humans Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos Pais de publicación: Reino Unido