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Comparison of Atomic Force Microscopy and Scanning Ion Conductance Microscopy for Live Cell Imaging.
Seifert, Jan; Rheinlaender, Johannes; Novak, Pavel; Korchev, Yuri E; Schäffer, Tilman E.
Afiliación
  • Seifert J; †Institute of Applied Physics, University of Tübingen, Tübingen, Germany.
  • Rheinlaender J; †Institute of Applied Physics, University of Tübingen, Tübingen, Germany.
  • Novak P; ‡Division of Medicine, Imperial College London, London, U.K.
  • Korchev YE; §School of Engineering and Materials Science, Queen Mary University of London, London, U.K.
  • Schäffer TE; ‡Division of Medicine, Imperial College London, London, U.K.
Langmuir ; 31(24): 6807-13, 2015 Jun 23.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26011471
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica / Microscopía de Sonda de Barrido / Fibroblastos Límite: Animals Idioma: En Revista: Langmuir Asunto de la revista: QUIMICA Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos
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