High resolution spectrometer for extended x-ray absorption fine structure measurements in the 6 keV to 15 keV energy range. | Rev Sci Instrum;87(11): 11E305, 2016 Nov. | MEDLINE

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High resolution spectrometer for extended x-ray absorption fine structure measurements in the 6 keV to 15 keV energy range.

Seely, J F; Hudson, L T; Henins, Albert; Feldman, U.

Afiliación

Seely JF; Artep Inc., 2922 Excelsior Springs Court, Ellicott City, Maryland 21042, USA.
Hudson LT; National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland 20899, USA.
Henins A; National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, Maryland 20899, USA.
Feldman U; Artep Inc., 2922 Excelsior Springs Court, Ellicott City, Maryland 21042, USA.

Rev Sci Instrum ; 87(11): 11E305, 2016 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27910617

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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