Development of 2000 K Class High Temperature In Situ Transmission Electron Microscopy of Nanostructured Materials via Resistive Heating. | J Nanosci Nanotechnol;17(4): 2848-851, 2017 Apr. | MEDLINE

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Development of 2000 K Class High Temperature In Situ Transmission Electron Microscopy of Nanostructured Materials via Resistive Heating.

Terasawa, Tomo-o; Kikuchi, Shogo; Tezura, Manabu; Kizuka, Tokushi.

J Nanosci Nanotechnol ; 17(4): 2848-851, 2017 Apr.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29668196

Palabras clave

In Situ Transmission Electron Microscopy; High Temperature; Sample Heating Holder; High-Resolution Transmission Electron Microscopy; nanostructured Materials

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Año: 2017 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos

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