Identificación de fuentes de emisión por microscopía electrónica y difracción por rayos X

ABSTRACT

Estudio de identificación de fuentes de emisión de material particulado, tomando como base dos muestras patrón y analizando una muestra tomada en aire ambiente. Se analizaron mediante difracción de rayos X (DRX), microscopía electrónica de barrido (MEB), y espectrometría de energía dispersiva de rayos X (EDX)