Análise de radioelementos, a níveis de traços, utilizando espectrometria de massa de íons secundários / Analysis of radioelements by levels of traits using mass spectrometry of secundary ions
In. Schiabel, Homero; Slaets, Annie France Frère; Costa, Luciano da Fontoura; Baffa Filho, Oswaldo; Marques, Paulo Mazzoncini de Azevedo. Anais do III Fórum Nacional de Ciência e Tecnologia em Saúde. Säo Carlos, s.n, 1996. p.515-516, graf.
Monography
em Pt
| LILACS
| ID: lil-233846
Biblioteca responsável:
BR1.1
Localização: BR1.1/3012.38
RESUMO
A espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) permite a detecção rápida de elementos estáveis ou radioativos, bem como o cálculo de seu percentual isotópico. Ademais, essa técnica possibilita a localização de radioisótipos, à níveis de traços, em amostras biológicas. Neste trabalho procurou-se estudar a utilização dessa metodologia na detecção de urânio natural à baixa concentração. Estudos sobre a preparação de amostras e limites de detecção foram também realizados.
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
LILACS
Assunto principal:
Elementos Radioativos
/
Urânio
/
Espectrometria de Massa de Íon Secundário
/
Liberação Nociva de Radioativos
Idioma:
Pt
Ano de publicação:
1996
Tipo de documento:
Congress and conference
/
Monography
País de publicação:
Brasil