High-resolution electron-energy-loss spectroscopy of thin films of C60 on Si(100).
Phys Rev Lett
; 67(16): 2171-2174, 1991 Oct 14.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-10044357
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Ano de publicação:
1991
Tipo de documento:
Article
País de publicação:
Estados Unidos