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Controlled surface charging as a depth-profiling probe for mesoscopic layers
Doron-Mor I; Hatzor A; Vaskevich A; van der Boom-Moav T; Shanzer A; Rubinstein I; Cohen H.
Afiliação
  • Doron-Mor I; Department of Materials and Interfaces, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel.
Nature ; 406(6794): 382-5, 2000 Jul 27.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-10935629
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nature Ano de publicação: 2000 Tipo de documento: Article País de afiliação: Israel País de publicação: Reino Unido
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