A low temperature scanning tunneling microscope for electronic and force spectroscopy.

Smit, R H M; Grande, R; Lasanta, B; Riquelme, J J; Rubio-Bollinger, G; Agraït, N

Smit, R H M; Grande, R; Lasanta, B; Riquelme, J J; Rubio-Bollinger, G; Agraït, N.

Afiliação

Smit RH; Laboratorio de Bajas Temperaturas, Departamento Física de la Materia Condensada C-III, Universidad Autónoma de Madrid, E-28049 Madrid, Spain. smit@physics.leidenuniv.nl

Rev Sci Instrum ; 78(11): 113705, 2007 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18052478

Assuntos

Eletrônica/instrumentação; Aumento da Imagem/instrumentação; Microscopia de Força Atômica/instrumentação; Microscopia de Tunelamento/instrumentação; Temperatura Baixa; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Aumento da Imagem/métodos; Microscopia de Força Atômica/métodos; Microscopia de Tunelamento/métodos; Reprodutibilidade dos Testes; Sensibilidade e Especificidade; Estresse Mecânico

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Aumento da Imagem / Microscopia de Tunelamento / Microscopia de Força Atômica / Eletrônica Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Evaluation_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article País de afiliação: Espanha País de publicação: Estados Unidos

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