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Infrared absorption signature on laser-damaged optical thin films.
Kim, Sangho S; Gabriel, Nicholas T; Chan, Wing S; Talghader, Joseph J.
Afiliação
  • Kim SS; Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Minneapolis, MN 55455, USA.
Opt Lett ; 34(14): 2162-4, 2009 Jul 15.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19823535
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Lett Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos
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