Microreflectance difference spectrometer based on a charge coupled device camera: surface distribution of polishing-related linear defect density in GaAs (001). | Appl Opt;48(30): 5713-7, 2009 Oct 20. | MEDLINE

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Microreflectance difference spectrometer based on a charge coupled device camera: surface distribution of polishing-related linear defect density in GaAs (001).

Lastras-Martínez, L F; Castro-García, R; Balderas-Navarro, R E; Lastras-Martínez, A.

Afiliação

Lastras-Martínez LF; Instituto de Investigación en Comunicación Optica, Universidad Autónoma de San Luis Potosí, Alvaro Obregón 64, 78000 San Luis Potosí, San Luis Potosí, México. lflm@cactus.iico.uaslp.mx

Appl Opt ; 48(30): 5713-7, 2009 Oct 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19844305

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de publicação: Estados Unidos

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