Extended depth of focus for transmission x-ray microscope. | Opt Lett;37(17): 3708-10, 2012 Sep 01. | MEDLINE

Conteúdo principal 1 Busca 2 Rodapé 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional da BVS

Informação e Conhecimento para a Saúde

Localizar descritor de assunto Busca Avançada EVID@Easy

Extended depth of focus for transmission x-ray microscope.

Liu, Yijin; Wang, Junyue; Hong, Youli; Wang, Zhili; Zhang, Kai; Williams, Phillip A; Zhu, Peiping; Andrews, Joy C; Pianetta, Piero; Wu, Ziyu.

Afiliação

Liu Y; Stanford Synchrotron Radiation Lightsource, SLAC National Accelerator Laboratory, Menlo Park, California 94025, USA. liuyijin@slac.stanford.edu

Opt Lett ; 37(17): 3708-10, 2012 Sep 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22940998

Assuntos

Microscopia/métodos; Fenômenos Ópticos; Algoritmos; Raios X

Adicionar na Minha BVS

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Fenômenos Ópticos / Microscopia Idioma: En Revista: Opt Lett Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos

Adicionar na Minha BVS

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Fenômenos Ópticos / Microscopia Idioma: En Revista: Opt Lett Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos