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Atom probe tomography study of Mg-doped GaN layers.
Khromov, S; Gregorius, D; Schiller, R; Lösch, J; Wahl, M; Kopnarski, M; Amano, H; Monemar, B; Hultman, L; Pozina, G.
Afiliação
  • Khromov S; Department of Physics, Chemistry, and Biology (IFM), Linköping University, S-581 83 Linköping, Sweden.
Nanotechnology ; 25(27): 275701, 2014 Jul 11.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24960447
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article País de afiliação: Suécia País de publicação: Reino Unido
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