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High temperature Hall measurement setup for thin film characterization.
Adnane, L; Gokirmak, A; Silva, H.
Afiliação
  • Adnane L; Electrical and Computer Engineering, University of Connecticut, Storrs, Connecticut 06269, USA.
  • Gokirmak A; Electrical and Computer Engineering, University of Connecticut, Storrs, Connecticut 06269, USA.
  • Silva H; Electrical and Computer Engineering, University of Connecticut, Storrs, Connecticut 06269, USA.
Rev Sci Instrum ; 87(7): 075117, 2016 Jul.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-27475605
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Estados Unidos
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