Glassy Dynamics in Disordered Electronic Systems Reveal Striking Thermal Memory Effects.

Eisenbach, A; Havdala, T; Delahaye, J; Grenet, T; Amir, A; Frydman, A

Eisenbach, A; Havdala, T; Delahaye, J; Grenet, T; Amir, A; Frydman, A.

Afiliação

Eisenbach A; The Department of Physics, Bar Ilan University, Ramat Gan 52900, Israel.
Havdala T; The Department of Physics, Bar Ilan University, Ramat Gan 52900, Israel.
Delahaye J; Institut Néel, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9, France.
Grenet T; Institut Néel, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9, France.
Amir A; School of Engineering and Applied Sciences, Harvard University, Cambridge, Massachusetts 02138, USA.
Frydman A; The Department of Physics, Bar Ilan University, Ramat Gan 52900, Israel.

Phys Rev Lett ; 117(11): 116601, 2016 Sep 09.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-27661707

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article País de afiliação: Israel País de publicação: Estados Unidos

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