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Modelling and optimizing a system for testing electronic circuit boards.
Chen, Stephen Y; Marcotte, Odile; Morfin Ramírez, Mario Leonardo; Pugh, Mary.
Afiliação
  • Chen SY; 1School of Information Technology, York University, 3068 TEL Building, 4700 Keele Street, Toronto, M3J 1P3 Canada.
  • Marcotte O; 2GERAD, HEC Montréal and Département d'informatique, UQAM, 3000 Côte-Sainte-Catherine, Montréal, H3T 2A7 Canada.
  • Morfin Ramírez ML; MOAI Solutions Inc., 3-143 Arlington Ave., Toronto, M6C 2Z3 Canada.
  • Pugh M; 4Department of mathematics, University of Toronto, 40 St. George St, room 6290, Toronto, M5S 2E4 Canada.
Math Ind Case Stud ; 8(1): 4, 2017.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32010412
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Math Ind Case Stud Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de publicação: Holanda
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